真空鍍(dù)膜塗層膜厚測(cè)量方式?

發(fā)布時間:2023-03-02瀏覽量:7609

我們日常生活中,很多生活物品都經過鍍膜機鍍上了一層膜層,讓產品不僅(jǐn)變得更美觀,也更實用。但是很多人會有一個疑問,那既然是鍍了一層膜層,薄膜肯定是有厚度大(dà)小的,那麽(me)薄膜厚度(dù)具(jù)體多厚呢,以及怎麽去測量?


 

羞羞视频网站科技為大家詳細介紹一下真空鍍膜機膜(mó)後怎麽測(cè)量。


 

       薄膜必須沉積在基底之上, 所以離開(kāi)了基片(piàn)也就無從談薄膜沉積的問題。基片的清洗好壞又對薄膜的質最有極共重(chóng)要的影(yǐng)響。同時在薄膜的製作中還必須知道薄膜的厚度,脫離了薄膜的厚度(dù)來談薄(báo)膜性質的測最也是亳(bó)無(wú)意義的。 所以, 膜厚的測量和基片的清洗可以說是和薄膜製作(zuò)相關的重要技術。一般所謂的厚度是指兩個完(wán)全(quán)平整的平行平麵之間的距離,這個概(gài)念是一個幾(jǐ)何概念。


 

        理想的薄(báo)膜厚度(dù)是指基片表麵和薄膜表麵之間的距離(lí)。在薄膜形貌的三維度量中,相對於薄膜的厚(hòu)度(dù)來講,其他兩維的度量可以說是無窮大(dà)。由(yóu)於實際上存在的表麵是不平整(zhěng)和不連續的,而且薄膜的內部還可能存在著(zhe)氣孔、雜質、晶格缺陷(xiàn)和表麵吸(xī)附分子(zǐ)等等,所有要嚴格地定義和精確地測量(liàng)薄膜的(de)厚度實際上是很困(kùn)難的。


 

        膜厚的定義位當根據測址的方(fāng)法和測址(zhǐ)的目的采決定。 因此, 同一個薄膜,使用不同的測量(liàng)方法會得到不同的結果, 即(jí)不同的厚度(dù)。


 

        在薄膜油測量中的表麵並不是一(yī)個幾何的(de)概念,而是一個 物埋概念, 是指表麵分子(原子)的集合。 平(píng)均表(biǎo)麵是指表麵原子所有的點(diǎn)到這個(gè)麵的距離代數和等於零(líng), 平均(jun1)表麵是 一個兒何概念。


 

        我們通常將基片的一(yī)側的(de)表麵分子的集合的平均表(biǎo)麵(miàn)稱為(wéi)基片表麵;薄膜上不和基片接觸的那一側的表麵的平均表麵稱(chēng)為薄膜的形狀表麵,將所測量的薄膜原子重新排列,使其密度和大塊狀固體材料完全一樣且均(jun1)勻(yún)的(de)分布在基片表麵上,這(zhè)時平均表麵稱為薄(báo)膜質量等價表麵;根據所測量薄膜(mó)的物理性質等效為一種長度和寬度與所測量的薄膜一樣的大塊固體材料的薄膜,這時的平均表麵稱為薄(báo)膜物性等價表麵。 形狀膜(mó)厚(hòu)是最接近於直觀形(xíng)式(shì)的膜(mó)厚(hòu), 通常以µm為單位; 質量膜厚反映了薄膜(mó)中包含物質為多少,通(tōng)常 以 µg/cm#8217;為單位, 物性膜厚在實際使用上較有用, 而且比 較容(róng)易測最。


 

         由於實際表麵並不平整, 同時薄膜製作過程中又不可避免地要(yào)有各種缺陷、 雜質(zhì)和吸附分子等存在, 所以不管用哪 一種方法來定義和(hé)測量膜厚,都是一個平均值, 而且足包括(kuò)了雜質、缺陷以及(jí)吸附(fù)分子在內的(de)薄膜的厚度值。


 

        真空鍍膜機鍍膜是在真空(kōng)腔體下進行鍍膜的,對於測量膜厚度來說,是需要(yào)這(zhè)方麵專業的測量儀才(cái)能測出厚度大小。


 

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